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高低溫測(cè)試儀測(cè)試參考標(biāo)準(zhǔn) |
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| 時(shí)間：2011-5-23 9:44:10 |
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高低溫測(cè)試儀測(cè)試參考標(biāo)準(zhǔn)：GB 10589-89 低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件、GB 10592-89 高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件、GB 11158-89 高溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件、GB/T5170.2-1996 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 溫度試驗(yàn)設(shè)備、GB2423.1-89 電工電子產(chǎn)品基本試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)A:低溫試驗(yàn)方法、GB2423.2-89 電工電子產(chǎn)品基本試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)B:高溫試驗(yàn)方法、GB2424.1-89 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 高溫低溫試驗(yàn)導(dǎo)則等相關(guān)行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)。
高低溫測(cè)試儀測(cè)試具有較寬的溫度控制范圍，其性能指標(biāo)均達(dá)到國家標(biāo)準(zhǔn)GB/T10592高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件，適用于按GB/T2423.1、2《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)試驗(yàn)A：低溫試驗(yàn)方法，試驗(yàn)B：高溫試驗(yàn)方法》對(duì)產(chǎn)品進(jìn)行低溫及高溫試驗(yàn)。適用于電工電子產(chǎn)品(包括元件、設(shè)備及其它產(chǎn)品)的高低溫度試驗(yàn)；
現(xiàn)在林頻技術(shù)更新?lián)Q代，不僅僅是做傳統(tǒng)計(jì)的-50、-70度這樣的溫度點(diǎn)了，而是可以做到零下100度甚至是零下200度的超低溫試驗(yàn)箱，如果您對(duì)高低溫測(cè)試儀有需求意向，林頻將是您最睿智的選擇！ |
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